磁感應腦電阻抗成像儀MH-200
產品詳情
多頻磁感應斷層成像(MIT)系統，以非接觸方式測量人體腦部電阻抗分布，可同頻連續時間差分監測或同時不同頻率差分檢測。以二維偽彩圖像、一維曲線和指標數值同步顯示，可實時監護、早期檢測。
適應癥：
- 用于腦卒中檢測
- 腦部健康體檢
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